Заинтересовавшее учёных явление электромиграции - переноса вещества под действием движущихся электронов - становится всё более значимым при уменьшении размеров схем. Сформированные ими «островки» на серебряной поверхности состояли всего из 100-100 000 атомов, а для наблюдения за изменением их состояния в случае протекания тока пришлось использовать сканирующий туннельный микроскоп.

Как выяснилось, структуры такого типа смещаются в направлении, противоположном направлению протекания тока, и постепенно уменьшаются в размерах. При этом сила воздействия электронов оказалась значительно - практически в 20 раз - выше ожидаемой, что, по мнению исследователей, позволяет использовать её для направленного перемещения атомов в наноэлектронных компонентах.

Авторам также удалось выяснить, что воздействие электронов снижается при размещении дефектов (фуллерена C60) вдоль границ «островков». «Основная причина этого заключается в том, что дефекты вызывают рассеяние электронов», - поясняет руководитель группы Эллен Уильямс (Ellen Williams).

В настоящее время учёные проводят аналогичные эксперименты с наноразмерными структурами на поверхности графена, сообщает "Компьюлента".

Читайте самые интересные истории ЭлектроВестей в Telegram и Viber